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本发明公开了一种半导体分立器件测试装置，包括底板，所述底板顶面固定连接有防护壳，所述防护壳顶面固定连接有盒体，所述盒体呈圆形设置，所述盒体内腔设置有圆板，所述圆板侧壁上开设有若干个弧形槽，所述弧形槽内均设置有二极管，所述盒体侧壁设置有往复机...
该专利属于成都思科瑞微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都思科瑞微电子股份有限公司授权不得商用。

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