【技术实现步骤摘要】
一种半导体分立器件测试装置
[0001]本专利技术涉及半导体分立器件测试
，具体为一种半导体分立器件测试装置。
技术介绍
[0002]半导体分立器件泛指半导体晶体二极管、半导体三极管简称二极管、三极管及半导体特殊器件，在对半导体分立器件加工生产完成后，需要对其进行测试，检测每个产品的使用性能，确保生产质量，其中通电检测作为重要的一步测试，直接影响到产品的好坏和后期使用情况。
[0003]现有技术中对与半导体分立器件二极管的通电检测装置在使用过程中，大多数不能根据二极管的引脚位置进行调节，在检测时存在检测不到位和容易折弯引脚等情况，并且对于测试完成后的二极管不能很好的进行区分出料，易将好坏的二极管掺杂一起，从而导致测试效果差和使用效率低，因此我们提出一种半导体分立器件测试装置。
技术实现思路
[0004]本专利技术解决的技术问题在于克服现有技术的测试效果差和使用效率低等缺陷，提供一种半导体分立器件测试装置。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种半导体分立器件测试装置...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体分立器件测试装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)顶面固定连接有防护壳(2)，该防护壳(2)顶面固定连接有呈圆形状的盒体(3)；在所述盒体(3)的内腔设置有侧壁上带若干个弧形槽(5)的圆板(4)，且在每个弧形槽(5)内均设置有二极管(6)；所述盒体(3)侧壁设置有往复机构(7)，在该往复机构(7)靠近圆板(4)一侧设置有检测机构(8)；所述圆板(4)顶面固定连接有若干个磁块(10)，所述圆板(4)底面固定连接有竖轴(11)，所述竖轴(11)底端贯穿盒体(3)并固定连接有棘轮盘(12)，在该竖轴(11)侧壁上固定连接有第一槽轮(18)；所述底板(1)顶面靠近左侧处安装有电机(13)，所述电机(13)输出轴上固定连接有转轴(14)，所述转轴(14)顶端固定连接有凸轮(15)，所述凸轮(15)顶面偏心固定连接有圆杆(16)，该圆杆(16)与棘轮盘(12)活动连接；所述转轴(14)侧壁上固定连接有第二槽轮(17)，所述底板(1)顶面靠近右侧处固定连接有气泵(19)，所述气泵(19)侧壁上固定连接有两个气管(20)，所述盒体(3)内腔底面固定连接有两个安装块(24)，且每个安装块(24)侧壁上均固定连接有气嘴(25)；所述两个气管(20)的另一端则分别与气嘴(25)相连通，所述盒体(3)上方靠近左侧处设置有进料机构(26)。2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件测试装置，其特征在于：所述往复机构(7)包括圆筒(71)，所述圆筒(71)与盒体(3)活动连接，所述圆筒(71)内腔设置有圆柱块(72)，所述圆柱块(72)侧壁上开设有V形槽(73)，所述V形槽(73)呈环形设置，所述圆筒(71)内壁固定连接有横杆(74)，所述横杆(74)与V形槽(73)活动连接，所述圆柱块(72)底面固定连接有传动轴(75)，所述传动轴(75)底端贯穿圆筒(71)并固定连接有第三槽轮(22)，所述第一槽轮(18)与第三槽轮(22)之间通过第一皮带连接，所述传动轴(75)侧壁位于圆筒(71)内腔活动连接有挡板(76)，所述挡板(76)下方设置有第一弹簧(77)，所述第一弹簧(77)与传动轴(75)活动连接。3.根据权利要求2所述的一种半导体分立器件测试装置，其特征在于：所述检测机构(8)包括横板(81)，所述横板(81)与圆筒(71)固定连接，所述横板(81)下方设置有两个检测筒(82)，所述检测筒(82)顶面均固定连接有滑块(83)，所述横板(81)底面开设有与滑块(83)相匹配的滑槽(84)，所述滑块(83)与滑槽(84)活动连接，所述检测筒(82)内壁均活动连接有两个检测板(85)，所述检测板(85)顶面均固定连接有第二弹簧(86)，所述第二弹簧(86)另一端均与检测筒(82)内壁固定连接，所述二极管(6)引脚位于检测筒(82)内，所述滑块(83)侧壁上均设置有调节机构(9)。4.根据权利要求3所述的一种半导体分立器件测试装置，其特征在于：所述调节机构(9)包括插杆(91)，所述横板(81)左侧壁开设有若干个通孔(92)，两个所述插杆(91)位于其中两个通孔(92)内，所述滑块(83)左侧壁均开设有与插杆(91)相匹配的插孔(93)，所述插杆(91)均插入其中一个插孔(93)内。5.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件测试装置，其特征在于：所述进料机构(26)包括进料...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜秋平，李亚飞，李盼，马开鹏，
申请(专利权)人：成都思科瑞微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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