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本实用新型公开一种芯片检测系统，该检测系统包括：转运单元，位于转运单元一侧的上料单元以及位于转运单元的背离上料单元一侧的多个检测单元；其中，上料单元被配置为用于将芯片托盘运送至转运单元；转运单元被配置为用于将芯片托盘转送至多个检测单元，和将...
该专利属于苏州华兴源创科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华兴源创科技股份有限公司授权不得商用。

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