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根据本发明，提供了用于确定ｘ－射线辐射冲击是否会对植入式医疗设备（ＩＭＤ）潜在易受损离散元件、电路和／或电路通道造成改变或损坏的方法和结构。本发明包括用于从所述潜在易受损元件、电路和／或电路通道偏转ｘ－射线辐射冲击的结构。ｘ－射线辐射可由各...
该专利属于麦德托尼克公司所有，仅供学习研究参考，未经过麦德托尼克公司授权不得商用。

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