下载在编程相邻存储单元后对过度编程的存储单元的检测的技术资料

文档序号:3089290

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在一非易失性半导体存储系统(或其它类型的存储系统)中,是通过改变存储单元的阈电压来编程存储单元。由于在所述系统中的不同存储单元的编程速度的变化,所以将存在某些存储单元过度编程的可能性。即,在一个实例中,将使阈电压移动超过预期值或值的范围。本...
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