专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
桑迪士克股份有限公司
>
在编程相邻存储单元后对过度编程的存储单元的检测制造技术
>技术资料下载
下载在编程相邻存储单元后对过度编程的存储单元的检测的技术资料
文档序号:3089290
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
在一非易失性半导体存储系统(或其它类型的存储系统)中,是通过改变存储单元的阈电压来编程存储单元。由于在所述系统中的不同存储单元的编程速度的变化,所以将存在某些存储单元过度编程的可能性。即,在一个实例中,将使阈电压移动超过预期值或值的范围。本...
该专利属于桑迪士克股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过桑迪士克股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。