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通过提供用于存储器阵列存储位置的每一可寻址子单元的数据总线通道来测试存储器阵列的Ｉ／Ｏ中的读取和写入数据导引逻辑。每一总线通道连接到比较器的数据输入。ＢＩＳＴ控制器通过所述写入导引逻辑将测试模式写入到所述存储器，且并行读取所述测试模式以测试...
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