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一种嵌入式存储器的测试系统及测试方法技术方案
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文档序号:3088729
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一种嵌入式存储器的测试系统及测试方法,该系统包括测试装置和与其相连的自动测试设备,该装置包括存储器测试控制器和存储器测试总线接口单元相连,存储器测试控制器根据自动测试设备输入的测试控制信号,进行状态转换,在相应状态下根据自动测试设备通过存储...
该专利属于炬力集成电路设计有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过炬力集成电路设计有限公司授权不得商用。
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