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公开了一种基于缺陷中心的传感器。所述传感器包括：仪器，所述仪器包括发生器(18)，所述发生器用于在有源元件例如金刚石中引起激发；和检测器(20)，所述检测器用于测量所述有源元件中的跃迁。所述发生器是光源和/或所述检测器是光检测器。所述传感器...
该专利属于华威大学所有，仅供学习研究参考，未经过华威大学授权不得商用。

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