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本发明涉及用于测量材料的电特性的系统和方法。本文公开的示例性系统包括：导电探头，其适于容纳一定量的汞，其中导电探头包括具有出口的导电体；以及汞控制系统，其适于向导电探头供应汞。在该示例中，该系统还包括：图像传感器，其适于获得位于材料的表面上...
该专利属于格芯（美国）集成电路科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过格芯（美国）集成电路科技有限公司授权不得商用。

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