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本发明揭示一种控制器大容量存储器混装型半导体集成电路器件及其测试和使用方法。该器件在半导体芯片（１００）内至少具有作为主存储单元的大容量存储器（１）、对外部与（１）的数据输入输出进行控制的控制器（２）、能改写数据的存储单元（３４）、将按（３...
该专利属于东芝株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过东芝株式会社授权不得商用。

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