温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

提供与存储单元阵列的构成无关的、能够缩短试验时间并能够在晶片状态下进行老化试验的半导体存储器。环形振荡器１２８根据来自外部的老化试验指定信号ＳＢＴ而激活，基于其输出从内部行地址发生电路１２２输出的行地址信号在用运算电路１２４进行了加扰处理以...
该专利属于三菱电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三菱电机株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。