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在半导体存储装置中，每当比较电路（９）在至少一个参考存储单元（１０）的特征量与参考值（ＶＲＥＦ）进行比较时，比较电路（９）确定某个一定的最小偏差时，则通过再生电路（８）启动再生过程。...
该专利属于因芬尼昂技术股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过因芬尼昂技术股份公司授权不得商用。

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