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一种对ＦＬＡＳＨ内部单元进行测试的方法，在所述方法中，ＦＬＡＳＨ内部单元被均匀分为ｎ块，按地址升序依次为Ｂ↓［０］、Ｂ↓［１］、…、Ｂ↓［ｎ－１］，每一个块的大小为ｍ，其特征在于，所述方法包括如下步骤：　　　　１）整片擦除；　　　　２）从Ｂ...
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