一种对FLASH内部单元进行测试的方法技术

一种对ＦＬＡＳＨ内部单元进行测试的方法，在所述方法中，ＦＬＡＳＨ内部单元被均匀分为ｎ块，按地址升序依次为Ｂ↓［０］、Ｂ↓［１］、…、Ｂ↓［ｎ－１］，每一个块的大小为ｍ，其特征在于，所述方法包括如下步骤：　　　　１）整片擦除；　　　　２）从Ｂ↓［０］到Ｂ↓［ｎ－１］，对每一块Ｂ↓［ｉ］依次进行地址判断、写入模值及判断模值；　　　　３）整片擦除；　　　　４）从Ｂ↓［ｎ－１］到Ｂ↓［０］，对每一块Ｂ↓［ｉ］依次进行地址判断、写入模值及判断模值；　　　　以上各步骤中，如果读到的数据与期望值不一致，则报告并记录相关错误信息。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试技术，尤指一种对FLASH内部单元进行测试的方法。
技术介绍
FLASH器件的故障主要表现为以下形式(1)导线的开路或短路；(2)地址译码器不能正确寻址；(3)多重写入；(4)一个单元的数据受到其他单元的数据或读写操作的影响而发生变化；(5)写后未能恢复，立即进行读出时得不到正确信息；(6)读放大器读出一系列信息x后紧接着读x′时，无正确响应；(7)FLASH不能保持写入的信息。结合FLASH的基本结构和故障表现形式，可以得出以下故障模型(1)存储单元阵列中的故障①固定逻辑故障(Stuck-at fault)一个单元的逻辑值不随单元的任何行为而改变，也不受其余单元的影响，又称呆滞型故障，它包括固定为1或固定为0两种情形(S-A-1 or S-A-0)；②固定开路故障(Stuck-open fault)电路开路导致的故障；③状态转换故障(Transition fault)0-＞1或1-＞0的状态转换至少有一个不被正确执行；④数据保持故障(Data-maintaining fault)存储单元无法保持一个逻辑值持续一定的时间；⑤状态耦合故障(Coupling fau本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对FLASH内部单元进行测试的方法，在所述方法中，FLASH内部单元被均匀分为n块，按地址升序依次为B0、B1、...、Bn-1，每一个块的大小为m，其特征在于，所述方法包括如下步骤1)整片擦除；2)从B0到Bn-1，对每一块Bi依次进行地址判断、写入模值及判断模值；3)整片擦除；4)从Bn-1到B0，对每一块Bi依次进行地址判断、写入模值及判断模值；以上各步骤中，如果读到的数据与期望值不一致，则报告并记录相关错误信息。2.如权利要求1所述的一种对FLASH内部单元进行测试的方法，其特征在于所述步骤2)包括下列步骤对Bi的第1个地址，读是否为111...111；同时写入数字di；再读是否为di，数字di为i对m的模值；对Bi的第2个地址，读是否为111...111；同时写入数字di+1；再读是否为di+1，数字di+1为(i+1)对m的模值；……对Bi的第m个地址，读是否为111...111；同时写入数字di+m-1；再读是否为di+m-1，数字di+m-1为(i+m-1)对m的模值；所述步骤4)包括下列步骤对Bi的第m个地址，读是否为111...111；同时写入数字di；再读是否为di，数字di为i对m的模值；对Bi的第m-1个地址，读是否为111...111；同时写入数字di+1；再读是否为di+1，数字di+1为(i+1)对m的模值；……对Bi的第1个地址，读是否为111...111；同时写入数字di+m-1；再读是否为di+m-1，数字di+m-1为(i+m-1)对m的模值。3.如权利要求1或2所述的一种对FLASH内部单元进行测试的方法，其特征在于所述每一个块的大小m远远...

【专利技术属性】
技术研发人员：李颖悟，游志强，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：