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文档序号:3084843

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本发明提供了一种在相当高的临界电压(VT)改变值(delta  VT)下编程一内存阵列(68)的双位存储单元(10,82,84,86,88)的第一位(C0,C2,C4,C6)及第二位(C1,C3,C5,C7)的系统及方法。该相当高的VT保证...
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