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本发明涉及一种嵌入式存储器的测试装置，属于存储器的测试领域。本发明可节省芯片面积和功耗。本发明嵌入式存储器测试控制模块包括一个地址产生器、一个有限状态机和一个向量产生器，地址产生器为与Ｎ组存储器模块中深度最深的存储器对应的地址产生器，向量产...
该专利属于北京中星微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中星微电子有限公司授权不得商用。

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