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用于预烧测试的存储器装置以及方法制造方法及图纸
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文档序号:3084625
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一种用于预烧测试的存储器装置以及方法。此存储器装置具有多个次阵列字符线漏电流限制单元以及多个单一字符线漏电流限制单元。此存储器装置以一预定字符线电流值限制流经每一字符线的电流。在预烧测试中,字符线驱动器的输出端处于高阻抗状态。位元线加压电压...
该专利属于晶豪科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过晶豪科技股份有限公司授权不得商用。
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