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公开了一种测试存储单元可编程性的方法。该存储单元包括选择晶体管和数据存储元件。本方法包含在数据存储元件两端施加测试电压。选择晶体管被导通。最后，当施加测试电压时，测量流过数据存储元件的电流。如果电流大于参考值，则表示测试正信号。...
该专利属于基洛帕斯技术公司所有，仅供学习研究参考，未经过基洛帕斯技术公司授权不得商用。

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