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一种用于半导体设备的测试方法，所述半导体设备设置有使用由第一编码和第二编码组成的乘积码以实现存储器的纠错的ＥＣＣ电路，所述测试方法包括以下步骤：获得通过分别根据第一编码和第二编码的独立校正操作实现的第一通过／失效确定结果和第二通过／失效确定...
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