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一种检测存在弱缺陷的静态随机存取存储器（ＳＲＡＭ）阵列的方法和设备。首先将０／１比率写入到存储器阵列中（步骤１００），随后位线ＢＬ和ＢＬＢ被预充电并等于阀值检测电压（步骤１０２）。为了考虑特定的单元标准和／或特性，阀值检测电压根据单元的０／...
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