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新测试图包括在矩阵内执行“非常小跳转”和“非常大跳转”。由行译码器控制“非常小跳转”以及具有敏化导致字线中的缓慢下降行为的电阻开路缺陷的效果。“非常小跳转”是指两个连续访问的存储器位置仍然在唯一子簇中直到已经测试那个子簇中的所有行为止，仍然...
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