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一种低压检测器及检测非易失性存储器芯片低压的方法，低压时存储器单元不工作，并且根据电源电压的变化，通过使ＦｅＲＡＭ单元的开始和停止的操作点与芯片启动信号同步，可以明确识别激励电压区和去激励电压区，使芯片在阈值电压范围内安全操作。按照这种方法...
该专利属于海力士半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海力士半导体有限公司授权不得商用。

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