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本实用新型提供了一种SDB隔离效果测试结构,包括第一梳状结构、第二梳状结构和测试单元,能对测试单元中的SDB隔离效果进行测试;设第一梳状结构中的梳齿为第一梳齿,第二梳状结构中的梳齿为第二梳齿;所述第一梳齿在第一方向上的一端通过M1相互连接,...该专利属于杭州广立微电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州广立微电子股份有限公司授权不得商用。
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本实用新型提供了一种SDB隔离效果测试结构,包括第一梳状结构、第二梳状结构和测试单元,能对测试单元中的SDB隔离效果进行测试;设第一梳状结构中的梳齿为第一梳齿,第二梳状结构中的梳齿为第二梳齿;所述第一梳齿在第一方向上的一端通过M1相互连接,...