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本发明提供一种含有测试电路的半导体器件，可抑制电路面积的增加，同时有效执行解救信息的传送。进行冗余存储器（１１）、（１２）的解救处理的解救处理部（２１）、（２２）具有多个故障解救部（２１１）～（２１ｙ）、（２２１）～（２２ｘ），该故障解救部...
该专利属于松下电器产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。

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