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本发明提供一种半导体集成电路器件，能够按照各模式划分最佳地控制从外部进行控制的输入输出端子数量，用减少了存储器宏外部产生动作故障的因素的动作进行检查，并能够以各检查模式简单地实施检查、分析等。该半导体集成电路器件包括外部输入输出端子组（１０...
该专利属于松下电器产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。

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