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本发明公开了一种用于多端口存储器的以功能时钟速度连续扫描阵列内置自测试（ＡＢＩＳＴ）的系统。在ＡＢＩＳＴ测试期间，来自第一端口的功能寻址锁存器用作用于第二端口的寻址锁存器的阴影锁存器。该配置减少芯片上的仅仅测试硬件的数量，并且减少对编写复杂...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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