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公开了一种方法和测试配置，用于测试具有连接在一对位线之间的第一单元和第二单元的ＳＲＡＭ。在第一步骤中（４１０），将数据值存储在作为受测试的单元（ＣＵＴ）的第一单元中，并且将其补数存储在作为基准单元的第二单元中。接下来，将位线预充电到预定电压...
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