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监视NAND闪速存储器件中的擦除阈值电压分布的方法技术
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文档序号:3081834
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一种监视NAND闪速存储器件中的擦除阈值电压分布的方法。该方法通过对主单元施加第一编程电压来对主单元进行编程,然后测量主单元的阈值电压。该方法使用第二编程电压和第三编程电压对周边单元进行编程,然后测量周边单元的阈值电压。该方法测量由周边单元...
该专利属于海力士半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过海力士半导体有限公司授权不得商用。
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