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一种闪存存储器子卡测试方法技术
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文档序号:3081803
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本发明公开了一种闪存(FLASH)存储器子卡测试装置及方法,该装置包括:直流(DC)电源、电源监控芯片、单片机、时钟晶振、译码器、驱动器、移位寄存器及状态指示灯电路;该方法包括:插好待测的FLASH存储器子卡,打开DC电源,由电源监控芯片完...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。
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