一种闪存存储器子卡测试方法技术

本发明专利技术公开了一种闪存（ＦＬＡＳＨ）存储器子卡测试装置及方法，该装置包括：直流（ＤＣ）电源、电源监控芯片、单片机、时钟晶振、译码器、驱动器、移位寄存器及状态指示灯电路；该方法包括：插好待测的ＦＬＡＳＨ存储器子卡，打开ＤＣ电源，由电源监控芯片完成上电复位后，通知单片机开始工作，单片机通过译码器及控制总线驱动器对ＦＬＡＳＨ存储器子卡进行片选，再通过地址总线驱动器、数据总线驱动器对ＦＬＡＳＨ存储器子卡进行测试，最后通过状态指示灯电路和状态指示灯驱动器显示测试结果，利用本发明专利技术，可以一次测试最多八个ＦＬＡＳＨ存储器子卡，提高ＦＬＡＳＨ存储器子卡的生产测试效率和测试的有效性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及闪存(FLASH)存储器子卡测试技术，尤其是指一种FLASH 存储器子卡测试装置及方法。
技术介绍
FLASH存储器作为一种非易失性存储介质已经得到非常广泛的应用，通 常，把几个FLASH存储器芯片集成在一个小板上做成一块子卡，通过标准的 SODIMM-144金手指与主板插座相连，这种FLASH存储器子卡不会占用主板 的空间，这在当今小体积设备、高密度的单板上具有一定的优越性，且这种 FLASH存储器子卡具有4艮好的通用性和可移植性。由于FLASH存储器子卡本身无法单独上电进行测试，必须借助于使用此 子卡的主板上电来进行测试。这样，由于FLASH存储器子卡生产工艺造成的 焊接缺陷和器件自身质量缺陷，需要在该子卡装到主板上以后才能被发现，这 无疑会增加返修成本，降低生产效率，对于当今竟争日益激烈的通讯制造行业 是不利的，如何提高测试效率和测试有效性就成为关键。现有的测试装置如图1所示，该装置包括后台PC及主控板，主控板进 一步包括CPU最小系统。该装置的工作流程是这样首先将待测的FLASH存 储器子卡通过标准的SODIMM-144金手指与主控板上的144芯插座连接，然后本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种闪存ＦＬＡＳＨ存储器子卡测试装置，其特征在于，该装置包括：单片机、译码器、驱动器、状态指示灯电路，其中，单片机，用于通过译码器选择当前待测的ＦＬＡＳＨ存储器子卡，并控制驱动器完成对当前所选ＦＬＡＳＨ存储器子卡的测试；译码器，用于选择当前待测的ＦＬＡＳＨ存储器子卡；驱动器，用于配合单片机完成对当前所选ＦＬＡＳＨ存储器子卡的测试；状态指示灯电路，用于提供对ＦＬＡＳＨ存储器子卡测试过程中的测试状态指示。

【技术特征摘要】
1、 一种闪存FLASH存储器子卡测试装置，其特征在于，该装置包括单 片机、译码器、驱动器、状态指示灯电路，其中，单片机，用于通过译码器选择当前待测的FLASH存储器子卡，并控制驱动器完成对当前所选FLASH存储器子卡的测试；译码器，用于选择当前待测的FLASH存储器子卡；驱动器，用于配合单片机完成对当前所选FLASH存储器子卡的测试；状态指示灯电路，用于提供对FLASH存储器子卡测试过程中的测试状态指示。2、 根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述驱动器包括一个以上数 据总线驱动器、 一个以上地址总线驱动器，控制总线驱动器及指示灯电路驱动 器。3、 根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述状态指示灯电路包括一 个以上状态指示灯，每个状态指示灯按照一定顺序与每个待测FLASH存储器 子卡中的每个芯片对应。4、 一种闪存存储器子卡测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤A、 从安装好的所有待测FLASH存储器子卡中，选择当前待测的FLASH 存储器子卡；B、 对当前选择的待测FLASH存储器子卡进行测试，根...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏伟年，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]