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本发明公开了一种内嵌存储器芯片测试方法，包括以下步骤，首先，对芯片进行初次测试；第二步，对初步测试正常并且测试结果为合格的芯片写入不同于存储器中原有数值的值，其他芯片保持原有的值；第三步，将测试通过的芯片剔除出复测列表，对其他芯片进行复测；...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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