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一种半导体探测器制造技术
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文档序号:30743176
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本实用新型公开了一种半导体探测器,涉及探测器技术领域,包括:半导体晶体和屏蔽体,半导体晶体直径不小于30毫米,半导体晶体厚度不小于15毫米,半导体晶体固定设置于屏蔽体内部,屏蔽体避光,半导体晶体顶面和半导体底面均设置有电极,各电极均用于与电...
该专利属于核工业北京地质研究院所有,仅供学习研究参考,未经过核工业北京地质研究院授权不得商用。
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