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公开了一种用于计算存在于定轴型旋转磁头装置中的偏心质量大小并测定其位置的方法，以及用于计算和测定的装置。用于计算定轴型旋转磁头装置的偏心质量大小和测定其位置的方法和用于计算和测定的装置是非常精确和可信的。因此，通过对利用上述方法和装置计算和...
该专利属于大宇电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过大宇电子株式会社授权不得商用。

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