定轴旋转磁头装置的偏心位置和质量的测算方法及其装置制造方法及图纸

技术编号:3071278 阅读:160 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
公开了一种用于计算存在于定轴型旋转磁头装置中的偏心质量大小并测定其位置的方法,以及用于计算和测定的装置。用于计算定轴型旋转磁头装置的偏心质量大小和测定其位置的方法和用于计算和测定的装置是非常精确和可信的。因此,通过对利用上述方法和装置计算和测定的偏心质量进行平衡,磁头装置的回转振动能够被大大地缩减。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及定轴型旋转磁头装置中计算偏心质量大小和测定偏心质量位置的方法,以及用于计算和测定的装置。每个旋转体具有一偏心质量,并且此偏心质量产生一个旋转振动。当旋转时,安装在录象机(VCR)中的磁头装置再现记录在磁带上的信息或在磁带上记录一些信息。由于安装在VCR中的磁头装置也是一个旋转体,其具有一个偏心质量,产生一个旋转振动。VCR的磁头装置的旋转振动是影响磁带的再现影象或记录影象品质的一个重要因素。Takashi Kohno等人的美国专利NO.5,051,851公开了一种用于平衡旋转磁头装置的机构。下面将参考附图说明图1进行解释。图1是一个具有平衡器的普通磁头装置20。如图中所示,假定一个具有质量块W1的失衡器22被置于旋转柱21的特定位置上。一对平衡器23被固定在安装有失衡器22的旋转柱21的其他位置上。此时,这对平衡器23a和23b被固定并相对于延长线A-A保持对称,为了维持平衡,A-A线通过连接失衡器22和旋转柱21的中心(O)获得。而且,Takashi Kohno的装置包括一分别安装在旋转柱的上下位置上的矫正板,和一个马达。平衡器按照与上述相同的方法被安装在矫正板本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于计算具有一个磁鼓的定轴型旋转磁头装置偏心质量大小的方法,磁鼓包括一个固定下磁鼓和一个旋转上磁鼓,一个轴,其一端固定于所述下磁鼓,另一端朝所述上磁鼓的外侧延伸,和一对安装在所述轴上的第一和第二轴承,支持所述上磁鼓并与所述上磁鼓一起旋转,该方法包括如下步骤:以要求的速率旋转所述上磁鼓;通过照射到朝上磁鼓外侧延伸的轴上的激光及所述激光照射的反射,测量由上磁鼓中的偏心质量所导致的轴挠曲;利用轴的测量挠曲计算存在于所述上磁鼓中的所述偏心质量。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 1996-12-30 76491/96;KR 1996-12-30 76497/96;KR 11.一种用于计算具有一个磁鼓的定轴型旋转磁头装置偏心质量大小的方法,磁鼓包括一个固定下磁鼓和一个旋转上磁鼓,一个轴,其一端固定于所述下磁鼓,另一端朝所述上磁鼓的外侧延伸,和一对安装在所述轴上的第一和第二轴承,支持所述上磁鼓并与所述上磁鼓一起旋转,该方法包括如下步骤以要求的速率旋转所述上磁鼓;通过照射到朝上磁鼓外侧延伸的轴上的激光及所述激光照射的反射,测量由上磁鼓中的偏心质量所导致的轴挠曲;利用轴的测量挠曲计算存在于所述上磁鼓中的所述偏心质量。2.一种如权利要求1所述用于计算定轴型旋转磁头装置偏心质量大小的方法,其中所述上磁鼓的偏心质量通过下面的等式计算δ=[m·r·ω2(=P)/(6·E·I·(a-b))]×[a2·(c-b)·(3·L-a)+b2·(a-c)·(3·L-b)]其中,δ=所述轴的测量挠曲,P=所述上磁鼓的偏心质量的离心力,m=所述上磁鼓中的偏心质量,r=从所述轴的中心到所述上磁鼓末端的距离,ω=所述上磁鼓的角速度,E=杨氏模量(Yang's modulus),I=第二惯性矩,a=从所述轴的固定端到所述第一轴承的距离,b=从所述轴的所述固定端到所述第二轴承的距离,c=从所述轴的所述固定端到所述上磁鼓的所述上表面的距离,L=所述轴的长度。3.一种用于计算具有一个磁鼓的定轴型旋转磁头装置偏心质量大小的装置,磁鼓包括一个固定下磁鼓和一个旋转上磁鼓,一个轴,其一端位置固定于所述下磁鼓,另一端位置朝所述上磁鼓的外侧延伸,一对安装在所述轴上的第一和第二轴承,支持所述上磁鼓并与所述上磁鼓一起旋转,所述装置包括以要求的速率旋转所述上磁鼓的装置;借助于照射到所述上磁鼓的激光及所述激光照射的反射,测量上磁鼓中的偏心质量所引起的轴挠曲的装置;利用所述轴的测量挠曲计算存在于所述上磁鼓中的所述偏心质量的装置。4.一种如权利要求3所述用于计算定轴型旋转磁头装置偏心质量大小的装置,其中所述旋转装置是一个驱动夹。5.一种如权利要求4所述用于计算定轴型旋转磁头装置偏心质量大小的装置,其中所述测量装置是一个激光多普勒振动仪。6.一种如权利要求5所述用于计算定轴型旋转磁头装置偏心质量大小的装置,其中所述计算装置是下述等式δ=[(m·r·ω2(=P)/(6·E·I·(a-b))]×[a2·(c-b)·(3·L-a)+b2·(a-c)·(3·L-b)]其中,δ=所述轴的测量挠曲,P=所述上磁鼓的偏心质量的离心力,m=所述上磁鼓中的偏心质量,r=从所述轴的中心到所述上磁鼓末端的距离,ω=所述上磁鼓的角速度,E=杨氏模量(Yang's modulus),I=第二惯性矩,a=从所述轴的固定端到所述第一轴承的距离,b=从所述轴的所述固定端到所述第二轴承的距离,c=从所述轴的所述固定端到所述上磁鼓的上表面的距离,L=所述轴的长度。7.一种用于测定具有一个磁鼓的定轴型旋转磁头装置偏心质量位置的方法,磁鼓包括一个固定下磁鼓和一个旋转上磁鼓,一个轴,其一端位置固定于所述下磁鼓,另一端朝所述上磁鼓的外侧延伸,一对安装在所述轴上的第一和第二轴承,支持所述上磁鼓并与所述上磁鼓一起旋转,和一个置于所述上磁鼓内的传感装置,并测量所述上磁鼓的所述旋转周期,包括步骤以要求的速率旋转所述上磁鼓;通过照射到朝上磁鼓的外侧延伸的轴上的激光及所述激光照射的反射,测量上磁鼓中的偏心质量所引起的轴的挠曲;测量所述上磁鼓的旋转周期;利用所述轴的所述测量挠曲计算存在于所述上磁鼓中的偏心质量;利用所述轴的所述测量挠曲和所述上磁鼓的所述测量的旋转周期测定存在于上磁鼓中的所述偏心质量的位置。8.一种如权利要求7所述用于测定定轴型旋转磁头装置偏心质量位置的方法,其中测量所述轴的一个最大或最小挠曲。9.一种如权利要求8所述用于测定定轴型旋转磁头装置偏心质量位置的方法,其中所述上磁鼓的所述偏心质量通过下面的等式计算δ=[(m·r·ω2(=...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹汝旭梁伦
申请(专利权)人:大宇电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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