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本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率ｆ下分别输出固定幅值Ａ的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度...
该专利属于清华大学;江苏银河电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学;江苏银河电子股份有限公司授权不得商用。

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