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本发明涉及一种基于聚焦误差的高倍速高密度盘片的质量检测方法，属于光存储技术领域。首先设待测盘片的转速为ｎ倍速，将光盘上的激光反射光斑分成四个光斑区，对每个光斑区对应的四个电压信号进行四则运算得到聚焦误差信号；设定待测盘片质量所期望的抖晃值，...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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