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用来自ＬＤ（１１）的预定功率的激光束辐照磁光盘（３３），以用于热处理。在热处理之后，用功率小于用于热处理的功率的激光束辐照执行过热处理的区域。较小功率激光束的反射光入射到光学传感器（２４、２６）上，并检测Ｐ波和Ｓ波的反射光强度。利用Ｐ波和Ｓ...
该专利属于索尼株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过索尼株式会社授权不得商用。

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