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本发明公开了一种可测量物质在超高压条件下的二次谐波的装置，包括激光激发部，提供入射激光，并将入射激光转换为偏振光；显微光路部，改变所述偏振光的光路，至该偏振光聚焦到待测样品上，激发二次谐波并使该二次谐波沿入射激光原光路返回；载物部，包含金刚...
该专利属于北京高压科学研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过北京高压科学研究中心授权不得商用。

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