温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种符合适航要求的孔特征表面缺陷分布曲线建立方法，首先对收集的表面缺陷统计数据进行数据处理，结合无损检出概率得到真实缺陷个数，从而获取缺陷超越数；然后对缺陷尺寸和超越数进行曲线拟合；最后结合实际缺陷出现概率对缺陷分布超越数基线进...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。