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本发明涉及一种光谱分析装置及系统,包括设置在外壳内的狭缝、消像差元件、准直镜、光栅、聚焦镜、光电探测器以及设置在外壳外的光纤接头;狭缝与光纤接头配合连接,用于将被测光导入并投射到准直镜;消像差元件设置于狭缝与准直镜之间,用于补偿像差;准直镜...该专利属于高利通科技(深圳)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过高利通科技(深圳)有限公司授权不得商用。
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本发明涉及一种光谱分析装置及系统,包括设置在外壳内的狭缝、消像差元件、准直镜、光栅、聚焦镜、光电探测器以及设置在外壳外的光纤接头;狭缝与光纤接头配合连接,用于将被测光导入并投射到准直镜;消像差元件设置于狭缝与准直镜之间,用于补偿像差;准直镜...