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本发明提供一种温度控制方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元。所述方法包括：检测存储器存储装置的系统参数，其中所述系统参数反映存储器存储装置中的可复写式非易失性存储器模块的损耗程度；根据所述系统参数决定温控门槛值；以及响应于所述存储器存储...
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