温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种芯片金线缺陷检测方法及系统，其中方法包括以下步骤：采集芯片的第一图像和第二图像；第一图像包括第一金线，第二图像包括第二金线；第一金线和第二金线为芯片中的同一根金线；对第一图像和第二图像进行定位；对定位后第一图像和第二图像进行区...
该专利属于合肥图迅电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥图迅电子科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。