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本发明提供一种弱光场样品Mueller矩阵快速检测检测方法及检测系统，属于偏振测量技术领域，该检测方法的具体过程为：选取四个不同快轴方向的四分之一波片进行拼接，选取一透光轴为水平方向的偏振片和拼接的多快轴四分之一波片共同组成偏振态产生器；基...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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