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本发明涉及线束测试技术领域，具体涉及一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法；将DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块，用于所有测试项目；将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连，由FPGA调节量程，用于所有测试项...
该专利属于迪力普电子（常州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过迪力普电子（常州）有限公司授权不得商用。

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