一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及线束测试技术领域，具体涉及一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法；将DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块，用于所有测试项目；将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连，由FPGA调节量程，用于所有测试项目；在交流项目测试的时候，4路锁相放大器和4路积分型模数转换器同步并行工作，直流项目测试的时候，2路积分型模数转换器同步并行工作；FPGA读取ADC的转换结果，由内部DSP软核进行运算，并最终得出测试结果，与传统方案相比，功能强大，电路集成度高，体积减小，重量减轻，4路并行检测，测试速度快。测试速度快。测试速度快。

【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及线束测试
，尤其涉及一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法。

技术介绍

[0002]线束测试系统通常分成测试主机箱和开关阵列箱。在用于船舶、列车、飞机等领域的线束、线缆测试时，测试主机箱与开关阵列箱通常情况下会相隔一段距离，测试主机箱与开关阵列箱之间通过电缆进行连接。
[0003]传统的线束综合测试系统采用的方式是将各种功能的仪器仪表通过通讯总线和电脑连接，来实现各项测试功能，这种方式，虽然有测试功能强大，配置灵活的优势，但是体积过大，重量过重，成本过高的缺点，不利于设备的便携。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种基于FPGA的线束综合测试系统及方法，旨在解决现有技术中线束综合测试系统体积过大，重量过重，成本过高的缺点，不利于设备的便携的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种基于FPGA的线束综合测试系方法，
[0006]将DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块，用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA的线束综合测试方法，其特征在于，包括如下步骤：将DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块，用于所有测试项目；将电压采样模块、电流采样模块与FPGA相连，由FPGA调节量程，用于所有测试项目；在交流项目测试的时候，4路锁相放大器和4路积分型模数转换器同步并行工作，直流项目测试的时候，2路积分型模数转换器同步并行工作；FPGA读取ADC的转换结果，由内部DSP软核进行运算，并最终得出测试结果。2.如权利要求1所述的一种基于FPGA的线束综合测试方法，其特征在于，在DDS产生的信号作为基准分别连接高压信号源模块和低压信号源模块，用于所有测试项目的步骤中：DDS由FPGA和一个双路的12位双极性DAC以及数字滤波器组成。3.如权利要求2所述的一种基于FPGA的线束综合测试方法，其特征在于，在DDS产生的信号作为基准分别连...

【专利技术属性】
技术研发人员：张金锁，黄科，倪友福，
申请(专利权)人：迪力普电子常州有限公司，
类型：发明
国别省市：