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本发明涉及一种用于确定使用坐标测量机(1)测量测量物体(2)的测量策略的方法和设备，其中，根据测量策略来测量该测量物体(2)，并且确定该测量的测量质量，其中，如果该测量质量大于预定目标最低测量质量，则改变该测量策略，其中，以如下方式来改变该...该专利属于卡尔蔡司工业测量技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过卡尔蔡司工业测量技术有限公司授权不得商用。
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本发明涉及一种用于确定使用坐标测量机(1)测量测量物体(2)的测量策略的方法和设备，其中，根据测量策略来测量该测量物体(2)，并且确定该测量的测量质量，其中，如果该测量质量大于预定目标最低测量质量，则改变该测量策略，其中，以如下方式来改变该...