用于确定测量测量物体的测量策略的方法和设备及程序技术

本发明专利技术涉及一种用于确定使用坐标测量机(1)测量测量物体(2)的测量策略的方法和设备，其中，根据测量策略来测量该测量物体(2)，并且确定该测量的测量质量，其中，如果该测量质量大于预定目标最低测量质量，则改变该测量策略，其中，以如下方式来改变该测量策略，即减少根据改变后的测量策略测量该测量物体(2)所需的时间和/或根据该改变后的测量策略测量该测量物体(2)所需的计算支出和/或根据该改变后的测量策略测量该测量物体(2)所需的数据存储容量，将该改变后的测量策略确定为新的测量策略，并且还涉及一种程序。并且还涉及一种程序。并且还涉及一种程序。

【技术实现步骤摘要】
用于确定测量测量物体的测量策略的方法和设备及程序


[0001]本专利技术涉及一种用于确定使用坐标测量机测量测量物体的测量策略的方法和设备、以及涉及一种程序。

技术介绍

[0002]现有技术已经公开了用于指定用于使用坐标测量机测量要测量的工件的默认数据的方法。例如，EP 3 403 051 B1描述了这种方法，其中，关于以下测试特征特性来定义要确定的测试特征，该测试特征应在工件的测量期间被测量并且在测量结果的评估期间被确定：a)测试特征的尺寸、b)公差类型以及c)允许公差范围。进一步，从一组现有测试特征中检索分配给现有相似测试特征的数据，并且如果满足相似性标准，则将其定义为默认数据。
[0003]也已知的是，在测量物体的测量期间所使用的测量参数(例如坐标测量机的传感器的探测参数或者在测量物体与传感器之间的相对运动的最大速度)对测量质量有影响。通常，所得的测量质量随着此相对速度的增加而下降。一般还成立的是，通常，测量质量会随着在测量期间所捕获的测量点数量的增加而增加。
[0004]然而，高的测量质量(例如通过捕获大量的测量点和/或通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于确定使用坐标测量机(1)测量测量物体(2)的测量策略的方法，其中，根据测量策略来测量该测量物体(2)，并且确定该测量的测量质量，其特征在于，如果该测量质量大于预定目标最低测量质量，则改变该测量策略，其中，以如下方式来改变该测量策略，即减少根据改变后的测量策略测量该测量物体(2)所需的时间和/或根据该改变后的测量策略测量该测量物体(2)所需的计算支出和/或根据该改变后的测量策略测量该测量物体(2)所需的数据存储容量，将该改变后的测量策略确定为新的测量策略。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该测量策略以如下方式来改变，即降低该测量质量。3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，通过确定代表该测量质量的至少一个测量质量参数来确定该测量质量。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，该测量质量参数是测量不确定度与预先已知的制造公差之间的关系。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，确定代表根据该测量策略的该测量的准确度、重复性、可再现性、线性和/或稳定性的变量作为测量质量。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，GR&R测试或根据VDA第5卷的测试被执行以确定代表该测量质量的变量。7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，当该测量质量大于预先已知的目标最低测量质量时，改变该测量策略的至少一个与测量质量相关的参数。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该测量策略的至少一个参数是或代表该坐标测量机(1)的传感器的传感器参数、要在预定时间间隔期间由该传感器捕获的测量点的数量、要捕获的这些测量点的空间分布的参数、测量物体(2)与传感器之间的相对运动的速度、测量轨迹的数量、测量轨迹的长度、用于对这些测量值进行滤波的滤波参数、用于评估这些测量值的评估参数或用于温度补偿的参数。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，如果该测量质量大于该预先已知的目标最低测量质量，则减少要在预定时间间隔内由该传感...

【专利技术属性】
技术研发人员：R罗伊斯迈尔，G哈斯，M埃瑟，
申请(专利权)人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：