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本实用新型涉及芯片测试技术领域,公开了一种用于晶圆芯片测试的tr im熔丝装置，包括探针卡、转接板、转接头和转接座，探针卡上焊接有多个熔丝，转接头焊接在探针卡上，熔丝分别通过导线接到转接头上，转接座焊接在转接板上，转接头插入到转接座中；转接...
该专利属于无锡矽鹏半导体检测有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡矽鹏半导体检测有限公司授权不得商用。

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