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本发明提供了用于优化电路设计的方法和装置。所述方法和装置将至少两种效应下的漏源退化电流对于实际电路时钟信号延迟的影响纳入考虑。根据本发明的用于优化电路设计的方法和装置，在无需进行多次流片试生产的情况下能够验证电路设计中的不足之处，从而能够降...
该专利属于西安紫光国芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安紫光国芯半导体有限公司授权不得商用。

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