温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种芯片性能测试系统与测试方法，包括芯片夹具、测试台、控制器，以及分别与控制器连接的成像系统、直流探针、高频探针和光纤；芯片夹具用于夹持待测芯片，且芯片夹具放置于测试台上进行待测芯片的性能测试；成像系统位于测试台上方，用于采集待...
该专利属于武汉光迅科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉光迅科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。